TASL固体径迹蚀刻系统

       TASL是一款全自动的、高性能的固体径迹分析系统,用来进行重粒子和中子的剂量测量。

       径迹读取和分析单元采用高性能的Nikon光学器件,3D机动控制系统,可快速/精确地批量分析探测器,整个测读和分析过程由系统全自动完成。

产品亮点
  • 全自动批量分析探测器,读出ID号,可设置径迹分析面积
  • 全自动对焦、校正响应衰变,径迹读数自动转换成剂量,结果保存在数据库中,可导出至Excel表
  • 本底低,低探测限可达5 kBq/m3,高探测限可达15 MBq/m3
  • 线性度好于3%,具有自动分辨氡/钍的能力
  • 每个探头读出速度快,用户可选择读出时间
  • 自动对焦,高性能成像技术,可区分蚀刻径迹和本底
产品规格
蚀刻单元

蚀刻溶液:6.25M氢氧化钠溶液

氡蚀刻温度:98℃

氡探头蚀刻时间:1小时

中子蚀刻温度:85℃

中子探头蚀刻时间:2.85小时

分析单元

高性能的Nikon光学器件,3D机动控制系统

一次可分析49个探测器,可定制测量片数量

单个探头分析时间:30-60s

氡探测器

材料:CR-39

照射时间:3个月或更长

本底:少于20个径迹/cm-2

不确定度:小于1Bq/m-3

中子探测器

材料:CR-39

密度:1.30g/cm3

精确度:±12.6%

快中子能量范围:200 keV - 15 MeV

尺寸:厚度1mm,各矩形尺寸可定制

技术文档
  • 产品介绍书
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  • 产品规格书
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  • 质量合格证明文件
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